涂層測(cè)厚儀XCT200

上海雙旭涂層測(cè)厚儀XCT200

產(chǎn)品概述

XCT200是一款磁性/渦流兩用涂層測(cè)厚儀，適用于精確測(cè)量鐵基及非鐵基體上的涂層、鍍層厚度。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（鐵基）/渦流感應(yīng)（非鐵基）
• 測(cè)量范圍：0~2000μm（具體分段依探頭配置）
• 分辨率：0.1μm（0~100μm）/1μm（>100μm）
• 測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+零點(diǎn)）
• 最小曲率：凸5mm/凹25mm
• 最小測(cè)量面積：直徑10mm
• 最薄基底厚度：鐵基0.2mm/非鐵基0.05mm
• 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
• 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能（具體容量需核實(shí)）
• 電源：AA電池
• 顯示：LCD數(shù)字顯示
• 工作溫度：0℃~40℃

使用注意事項(xiàng)

• 基體選擇：測(cè)量前必須正確選擇鐵基（Fe）或非鐵基（NFe）模式，匹配探頭類型。
• 校準(zhǔn)要求：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)、相同表面粗糙度的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，必要時(shí)使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。
• 表面處理：確保被測(cè)表面清潔、平整，無油污、灰塵及強(qiáng)磁性物質(zhì)。
• 測(cè)量壓力：探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地接觸被測(cè)表面，避免施加過大側(cè)向力或沖擊。
• 環(huán)境影響：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或極端溫度、濕度環(huán)境下使用。
• 基底影響：基底厚度、曲率、表面粗糙度及材質(zhì)均會(huì)影響測(cè)量精度，需滿足儀器規(guī)定的最小要求。
• 探頭保護(hù)：避免探頭磨損、撞擊，定期用標(biāo)準(zhǔn)片驗(yàn)證儀器準(zhǔn)確性。
• 電池管理：電量不足時(shí)應(yīng)及時(shí)更換電池，防止數(shù)據(jù)丟失或測(cè)量誤差。

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