試塊CSK-IVA
上海雙旭試塊CSK-IVA介紹
產(chǎn)品概述
CSK-IVA試塊是依據(jù)中華人民共和國國家標準GB/T 11345-2013《鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級》和JB/T 10063-1999《超聲波探傷用1號標準試塊技術(shù)條件》設(shè)計制造的標準試塊。主要用于超聲波探傷儀性能測試、探頭性能測試、距離-波幅曲線（DAC曲線）的繪制以及探傷靈敏度的校準。
產(chǎn)品參數(shù)
- 材質(zhì)：20#鋼或等效材料，經(jīng)熱處理，晶粒度不低于7級。
- 尺寸：約225mm（長）× 100mm（寬）× 75mm（高）。
- 反射體：
- Ø50mm 大平底（底面）
- Ø1.5mm × 25mm 橫通孔（位于R50、R100圓弧面中心）
- Ø1.5mm × 25mm 橫通孔（位于R50、R100圓弧面邊緣）
- Ø1.5mm × 25mm 橫通孔（位于試塊側(cè)面，深度分別為5、10、15、20、25、30mm）
- Ø2mm × 40mm 平底孔（位于試塊端面，深度為5、10、15、20、25、30、35、40mm）
- 表面粗糙度：Ra ≤ 0.8μm。
- 主要用途：校準儀器水平線性、垂直線性；測定探頭入射點、折射角（K值）；調(diào)整掃描速度（深度調(diào)節(jié)）；繪制距離-波幅曲線（DAC/TCG）；評估探頭分辨力、盲區(qū)等。
使用注意事項
- 使用前檢查：使用前應(yīng)檢查試塊表面及反射體通道是否清潔，有無銹蝕、污物及明顯機械損傷。耦合面應(yīng)保持光潔。
- 耦合劑：使用時需施加合適的耦合劑（如機油、甘油、漿糊等），確保探頭與試塊耦合良好。
- 輕拿輕放：試塊為精密計量器具，應(yīng)輕拿輕放，防止磕碰、跌落，以免造成尺寸變化或產(chǎn)生新的反射體，影響校準準確性。
- 環(huán)境與保養(yǎng)：使用和存放環(huán)境應(yīng)干燥、無腐蝕性介質(zhì)。使用后應(yīng)及時清潔表面耦合劑，涂抹防銹油，并放入專用盒內(nèi)保存。
- 定期檢定：試塊應(yīng)按照國家相關(guān)計量規(guī)程或使用頻率進行定期檢定（建議周期為一年），以確保其尺寸和反射體參數(shù)的準確性。
- 溫度一致性：進行精確校準或比對時，試塊與待檢工件的溫度應(yīng)盡量保持一致，以減少聲速差異帶來的誤差。
- 專用性：該試塊主要適用于鋼制工件的超聲波探傷校準。用于其他材料（如鋁、鈦等）時，需注意聲速差異，評估其適用性。
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