試塊V-2（IIW2）
上海雙旭試塊V-2（IIW2）介紹
產(chǎn)品概述
上海雙旭試塊V-2（IIW2）是一種標準超聲波探傷試塊，符合國際焊接學會（IIW）標準。主要用于超聲波探傷儀的性能測試、探頭校準、靈敏度調(diào)整以及缺陷定位和定量評估。
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號：V-2（IIW2）
- 材質(zhì)：通常為優(yōu)質(zhì)碳鋼或低合金鋼
- 尺寸：約250mm × 100mm × 25mm（長×寬×高）
- 表面粗糙度：Ra ≤ 1.6μm
- 主要特征：
- 100mm半徑曲面
- 25mm厚度臺階
- 1.5mm直徑橫孔
- 5mm直徑平底孔
- 0.75mm、1.5mm、3mm深度刻槽
- 適用標準：IIW、ISO 2400、GB/T 19799.1等
使用注意事項
- 使用前檢查：使用前需檢查試塊表面是否有銹蝕、劃傷或磨損，確保其精度。
- 清潔保養(yǎng)：使用后應及時清潔試塊表面，涂抹防銹油，并存放于干燥環(huán)境中。
- 避免碰撞：試塊為精密測量工具，應輕拿輕放，避免磕碰或跌落。
- 定期校準：建議定期將試塊送至專業(yè)機構進行校準，確保其測量準確性。
- 環(huán)境要求：使用環(huán)境應保持清潔，避免灰塵、油污等影響測量結果。
- 探頭匹配：根據(jù)檢測需求選擇合適的探頭，并在試塊上進行靈敏度校準和角度校正。
- 操作規(guī)范：操作人員需經(jīng)過專業(yè)培訓，熟悉超聲波探傷儀和試塊的使用方法。
主要用途
- 超聲波探傷儀的水平和垂直線性測試
- 探頭入射點、折射角和前沿距離的測定
- 儀器-探頭組合靈敏度校準
- 缺陷定位和定量參考
- 檢測系統(tǒng)分辨力和盲區(qū)評估
|
