上海雙旭涂層測(cè)厚儀Cpad T220產(chǎn)品介紹
上海雙旭Cpad T220是一款便攜式磁性/渦流兩用涂層測(cè)厚儀，適用于測(cè)量鐵基及非鐵基體上的涂層厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（Fe）/渦流（NFe）
- 測(cè)量范圍：0~2200μm（約0~86mil）
- 分辨率：1μm（0~99μm），0.01mm（100~2200μm）
- 測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
- 最小曲率：凸5mm，凹25mm
- 最小測(cè)量面積：直徑10mm
- 最薄基底：Fe模式0.2mm，NFe模式0.05mm
- 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能（具體組數(shù)需參考說明書）
- 電源：2節(jié)AA電池
- 顯示：LCD數(shù)字顯示
- 工作溫度：0℃~40℃
使用注意事項(xiàng)
- 基體選擇：測(cè)量前必須正確選擇基體模式（Fe鐵基或NFe非鐵基），否則測(cè)量結(jié)果無效。
- 表面清潔：確保被測(cè)表面清潔，無油污、灰塵、銹蝕及附著物。
- 校準(zhǔn)：使用前應(yīng)在與待測(cè)工件相同材質(zhì)、相同曲率的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，必要時(shí)使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)以提高精度。
- 測(cè)量壓力：探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地輕觸被測(cè)表面，避免施加過大壓力。
- 環(huán)境影響：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或極端溫度、濕度環(huán)境下使用。
- 基底厚度：確�；缀穸却笥谝�(guī)定的最小基底厚度，否則測(cè)量可能不準(zhǔn)確。
- 曲率與邊緣：在彎曲表面或邊緣測(cè)量時(shí)，結(jié)果可能受影響，應(yīng)進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量取平均值。
- 探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，測(cè)量后清潔探頭。
- 電池：長(zhǎng)期不使用請(qǐng)取出電池，防止漏液損壞儀器。
